大脑神经元叫做“contactin 4”基因受损可导致自闭症(点击图片进入下一页)
腾讯科技讯 据国外媒体3月20日报道,近日,美国研究人员宣称,与大脑功能建立连接的一种基因可能对于形成自闭症具有重要意义。
一种叫做“contactin 4”基因的瓦解损失将停止其正常工作,并使大脑正常的工作网络中断。这项研究报告发表在《医学遗传学》杂志上。负责此项研究的纽约州立大学石溪分校伊莱?哈奇韦尔博士称,儿童体内出现三组contactin 4基因瓦解或者三组中有一组瓦解,均将导致2.5%患自闭症的几率。
哈奇韦尔在一次电话采访中说,“通常人们都错误地认为自闭症是由于后天因素导致的,并没有想到这种病症会与遗传基因突变有联系。”他表示将这项研究添加到了自闭症潜在测试列表之中,或许将有助于对泛自闭症的治疗。泛自闭症是一种会影响儿童多方面功能的发育障碍,此障碍特征是沟通技巧迟缓、社交互动和思维想像能力出现障碍。
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